API HEMI3D快速掃描儀
快速&精準
hemispherical scanner掃描儀具有超高精度，掃描速度高達每秒120萬點，工作范圍多達70米。在7200 x 7200密度下，全體積掃描時間為4.5分鐘。
輕便&耐用
HemiScan掃描儀具有極佳的集成度和便攜性，整套系統可輕松放進隨身行李箱，便于攜帶至任何作業地點，保障測量作業的實施。
高分辨率輸出
HemiScan掃描儀具有超高的0.001毫米(1μm)分辨率，這有助于制作高分辨率三維CAD模型。您還可以輕松將數據導出到PolyWorks?、RapidForm?、Geomagic?、Cyclone?、RealWorks?和其它應用程序中進行處理。
優勢&特點
卓越表現
超高精度、掃描速度高達120萬點/秒、測量范圍多達70米。
極致便攜
整套設備可輕松放進隨身行李箱，小巧靈活、極致便攜。
多軟件兼容
可與市面上絕大多數測量分析軟件如：PolyWorks?，RapidForm?，Geomagic?，Cyclone?，RealWorks?以及其它應用程序相兼容，可根據您的習慣或應用功能選擇使用相關分析軟件。
適應多種測量工況
HemiScan掃描儀可在各種工況下完成測量作業，包括車間及戶外。
技術參數
系統參數
| 項目 | 參數 |
| 測距方式 | 相位移動 |
| 激光波長 | 685 nm (紅色激光) |
| 激光類型 | 連續波（CW） |
| 激光功率 | 15mW |
| 激光等級（IEC EN60825-1:2007標準） | 3R級 |
| 掃描速率 | 216,000 到 1,200,000 點/秒 |
| 距離分辨率 | 0.001mm (1μm) |
| 操作環境 | 5oC - 45oC, 無凝結 |
| 供電參數 | 19-24V DC, 鋰離子電池 |
| 角度參數 | |
| 垂直方向角度分辨率 | 1角秒 |
| 水平方向角度分辨率 | 1角秒 |
掃描密度控制：軟件功能可選
| 項目 | 參數 |
| 最小垂直方向點密度 | 24點/度 |
| 最小水平方向點密度 | 10點/度 |
| 最大垂直方向點密度 | 90點/度 |
| 最大水平方向點密度 | 90點/度 |
| 全容量掃描時間 | 4.5分鐘（7200×7200密度） |
| 掃描速率 | 216,000 到 1,200,000 點/秒 |
| 距離分辨率 | 0.001mm (1μm) |
| 操作環境 | 5oC - 45oC, 無凝結 |
| 供電參數 | 19-24V DC, 鋰離子電池 |
| 視野范圍 | |
| 水平方向（最大） | 360o |
| 垂直方向（最大） | 270o |
| 尺寸&重量 | |
| 重量 | 11 kg (24.25 lbs) |
| 尺寸 | 425mm長 x 164mm寬 x 237mm高 |
配置選項
| 配置 | SR | IR_X | ER_XC | ER_XS |
| 推薦工作范圍（米） | 0.2 – 5 | 0.4 – 30 | 1.5 – 50 | 1 – 70 |
| 模糊范圍（米） | 46 | 70 | 70 | 140 |
| 噪聲參數 | 0.07@2m | 0.1@3m | 0.2@8m | 0.5@8m |
| 不確定度范圍 | <0.3@3m | <0.5@5m | <0.7@15m | <1@15m |
適用領域
Hemispherical Scanner掃描儀精度高、工作速度快，在保障了精度的同時大幅提升工作效率，可完美適用于：
- 逆向工程
- 尺寸控制
- 建筑信息建模（BIM）
- 歷史文物保護
- 結構設計
- 調查取證